El SEM es un tipo de microscopio electrónico que escanea superficies de microorganismos, utilizando un haz de electrones que se mueven a baja energía para enfocar y escanear muestras, esto en lugar de emplear luz para la formar una imagen.
La inspección y medición en 3D es una de las tecnologías más utilizadas, ya que la metrología sin contacto permite observar el detalle de pequeñas piezas y grandes estructuras con una alta precisión; obteniendo por medio de un escaneo, información completa y específica.
Inspeccionar objetos, profundizar y descubrir las incógnitas, ha sido el principal objetivo de la ciencia y la investigación & desarrollo. Desde sus inicios ZEISS ha ofrecido conocimientos muy valiosos en esta y otras áreas; si hablamos de calidad y control de procesos, la tecnología de CT y Rayos X de Zeiss es capaz de descubrir los detalles más ocultos de las piezas.
En la actualidad los implantes forman parte importante de la práctica médica cotidiana, las tecnologías y materiales para su control de calidad y uso han evolucionado en gran medida con el objetivo de ayudar a las personas a recuperar su calidad de vida.
El escáner 3D T-SCAN hawk es portátil, preciso y está hecho para marcar la diferencia. En combinación con el software GOM Inspect Suite pre-instalado, es una solución poderosa que lo ayuda en cada paso de su tarea. Desde la captura de datos 3D de alta calidad hasta la entrega de resultados de alta calidad: está diseñado para simplificar los procesos.
La calibración frecuente y el mantenimiento preventivo mantienen su sistema de prueba en las mejores condiciones y asegura que sea capaz de producir resultados confiables.
En éste webinar aprenderás: Historia de la metrología, Fundamentos básicos de la metrología, Bases de la metrología, Equipo básico para metrología
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